The trademark application SmartSAM was filed by PVA TePla Analytical Systems GmbH, a corporation established under the laws of the Federal Republic of Germany (the "Applicant"). Application refused.
The application was filed in German (English was selected as the second language).
The Refusal with reference B 018931567 was Rejected according to Article 7(1)(b) EUTMR with decision issued on April 9, 2024 by the EUIPO.
Goods And Services
The mark was filed in class 9 with following description of goods:
Akustische Mikroskope und deren Teile zur zerstörungsfreien Prüfung von Materialien zur Qualitäts- und Prozesskontrolle sowie für Forschungsanwendungen, zur Erkennung von Hohlräumen, Einschlüssen und Delaminationen sowie von Mikrostrukturen und Gewebeproben
Ultraschallmikroskope und deren Teile zur zerstörungsfreien Prüfung von Materialien zur Qualitäts- und Prozesskontrolle sowie für Forschungsanwendungen, zur Erkennung von Hohlräumen, Einschlüssen und Delaminationen sowie von Mikrostrukturen und Gewebeproben
Optische Mikroskope
Software für akustische Mikroskope, Ultraschallmikroskope und optische Mikroskope
Bildbearbeitungssoftware
Bilderkennungssoftware, insbesondere unter Anwendung von künstlicher Intelligenz
Künstliche Intelligenz-Software und maschinelle Lernsoftware
Software zur Überwachung, Analyse, Steuerung und Ausführung von Vorgängen in der physischen Welt.
The mark was filed in class 42 with following description of goods:
Analyse von Materialien mittels akustischer Mikroskopie, Ultraschallmikroskopie und optischer Mikroskopie
Entwicklung akustischer und optischer Instrumente für Dritte für die Analyse von Materialien
Materialuntersuchungen mit Ultraschall, akustischen Mikroskopen und optischen Mikroskopen
Computersoftwareentwurf und -entwicklung, Computerprogrammierung und Implementierung von Software
Wissenschaftliche und technologische Dienstleistungen
Industrielle Analyse und industrielle Forschungsdienstleistungen
Software as a Service (SaaS) in Bezug auf akustische Mikroskope, Ultraschallmikroskope und optische Mikroskope und Bildbearbeitung.